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介電常數(shù)和介質(zhì)損耗測(cè)試儀

更新時(shí)間:2024-08-30

訪問量:856

廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家

生產(chǎn)地址:北京美華儀科技有限公司

簡(jiǎn)要描述:
MHY-28967介電常數(shù)和介質(zhì)損耗測(cè)試儀作頻率范圍是100kHz~100MHz,它能成作頻率內(nèi)材料的頻介質(zhì)損耗角(tanδ)和介電常數(shù)(ε)變化的測(cè)試。

本儀器中測(cè)試裝置是由平板電容器組成,平板電容器般用來夾被測(cè)樣品
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介電常數(shù)和介質(zhì)損耗測(cè)試儀 型號(hào):MHY-28967



MHY-28967 介電常數(shù)和介質(zhì)損耗測(cè)試儀由Q表、測(cè)試裝置,電感器及標(biāo)準(zhǔn)介質(zhì)樣品組成,能對(duì)緣材料行頻介質(zhì)損耗角正切值(tanδ)和介電常數(shù)(ε)的測(cè)試。它符合標(biāo)GB/T 1409-2006,美標(biāo)ASTM D150以及IEC60250規(guī)范要求。


MHY-28967作頻率范圍是100kHz~100MHz,它能成作頻率內(nèi)材料的頻介質(zhì)損耗角(tanδ)和介電常數(shù)(ε)變化的測(cè)試。

本儀器中測(cè)試裝置是由平板電容器組成,平板電容器般用來夾被測(cè)樣品,配用Q表作為示儀器。緣材料的損耗角正切值是通過被測(cè)樣品放入平板電容器和不放樣品的Q值變化和厚度的刻度讀數(shù)通過公式計(jì)算得到。使用HAD-Y2852A或HAD-Y2853A數(shù)字Q表具有自動(dòng)計(jì)算介電常數(shù)(ε)和介質(zhì)損耗(tanδ)。

點(diǎn):
本公司新的自動(dòng)Q值保持,使測(cè)Q分辨率至0.1Q,使tanδ分辨率至0.00005。

能對(duì)固體緣材料在100kHz~100MHz介質(zhì)損耗角(tanδ)和介電常數(shù)(ε)變化的測(cè)試。

調(diào)諧回路殘余電感值低至8nH,保證100MHz的(tanδ)和(ε)的誤差較小。

LCD屏菜單式顯示多參數(shù):Q值,測(cè)試頻率,調(diào)諧狀態(tài),調(diào)諧電容值等。

Q值量程自動(dòng)/手動(dòng)量程控制。

DPLL合成發(fā)生1kHz~70MHz(HAD-Y2852D), 50kHz~160MHz(HAD-Y2853D)測(cè)試信號(hào)。立信號(hào)源輸出口,

所以本機(jī)又是臺(tái)合成信號(hào)源。

測(cè)試裝置符合標(biāo)GB/T 1409-2006,美標(biāo)ASTM D150以及IEC60250規(guī)范要求。

2 主要標(biāo):

2.1 tanδ和ε性能:

2.1.1 固體緣材料測(cè)試頻率100kHz~100MHz的tanδ和ε變化的測(cè)試。

2.1.2 tanδ和ε測(cè)量范圍:

tanδ:0.1~0.00005,ε:1~50

2.1.3 tanδ和ε測(cè)量度(1MHz):

tanδ:±5%±0.00005,ε:±5%

Q表


作頻率范圍

50kHz~50MHz

四位數(shù)顯,壓控振蕩器

1kHz~70MHz

四位數(shù)顯,數(shù)字合成

度:±50ppm

50kHz~160MHz

四位數(shù)顯,數(shù)字合成

度:±50ppm


Q值測(cè)量范圍

1~1000

針,±1Q分辨率

1~1000

四位數(shù)顯,±0.1Q分辨率

1~1000

四位數(shù)顯,±0.1Q分辨率


可調(diào)電容范圍

40~500 pF

ΔC±3pF

40~500 pF

ΔC±3pF

13~230 pF


電容測(cè)量誤差

±1%±1pF

±1%±1pF

±1%±0.5pF


Q表殘余電感值

約20nH

約20nH

約8nH


2.3 介質(zhì)損耗裝置:  
以下是引用片段:

2.3.1 平板電容器片尺寸:
HAD-Y916D:Φ38mm和Φ50mm二種.
HAD-Y915:Φ38mm .
2.3.2 平板電容器間距可調(diào)范圍和分辨率:
0~8mm, ±0.01mm
2.3.3 圓筒電容器線性:
0.33 pF /mm±0.05 pF,
2.3.4 圓筒電容器可調(diào)范圍:
±12.5mm(±4.2pF)
2.3.5 裝置插頭間距:
25mm±0.1mm
2.3.6 裝置損耗角正切值:
≤2.5×10-4


2.4 電感器:
按測(cè)試頻率要求,需要配置不同量的電感器。例如:在1MHz測(cè)試頻率時(shí),要配100μH或250μH電感器,在50MHz測(cè)試頻率時(shí),要配0.1μH電感器等。


2.5 頻介質(zhì)樣品(選購件):
在現(xiàn)行頻介質(zhì)材料檢定系統(tǒng)中,檢定為頻介質(zhì)損耗測(cè)量儀提供的測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)是頻標(biāo)準(zhǔn)介質(zhì)樣品。該樣品由人藍(lán)寶石,石英玻璃,氧化鋁陶瓷,聚四氟乙烯,環(huán)氧板等材料做成Φ50mm,厚1~2mm測(cè)試樣品。用戶可按需訂購,以保證測(cè)試裝置的重復(fù)性和準(zhǔn)確性。





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