測厚儀是用來測量材料及物體厚度的儀表。在業(yè)中常用來連續(xù)或抽樣測量產(chǎn)品的厚度(如鋼板、鋼帶、薄膜、紙張、金屬箔片等材料)。
這類儀表中有利用α射線、β射線、γ射線穿透性的放射性厚度計;有利用聲波頻率變化的聲波厚度計;有利用渦原理的電渦厚度計;還有利用機械接觸式測量原理的測厚儀等。
測厚儀的測試方法主要有:磁性測厚法,放射測厚法,電解測厚法,渦測厚法,聲波測厚法。
測量注意事項:
⒈在行測試的時候要注意標準片集體的金屬磁性和表面粗糙度應(yīng)當與試件相似。
⒉測量時側(cè)頭與試樣表面保持垂直。
⒊測量時要注意基體金屬的臨界厚度,如果大于這個厚度測量就不受基體金屬厚度的影響。
⒋測量時要注意試件的曲率對測量的影響。因此在彎曲的試件表面上測量時不可靠的。
⒌測量前要注意周圍其他的電器設(shè)備會不會產(chǎn)生磁場,如果會將會干擾磁性測厚法。
⒍測量時要注意不要在內(nèi)轉(zhuǎn)角處和靠近試件邊緣處測量,因為般的測厚儀試件表面形狀的忽然變化很敏感。
⒎在測量時要保持壓力的恒定,否則會影響測量的讀數(shù)。
⒏在行測試的時候要注意儀器測頭和被測試件的要直接接觸,因此聲波測厚儀在行對側(cè)頭清除附著物質(zhì)。
1、激光測厚儀是利用激光的反射原理,根據(jù)光切法測量和觀察機械制中零件表面的微觀幾何形狀來測量產(chǎn)品的厚度,是種非接觸式的動態(tài)測量儀器。它可直接輸出數(shù)字信號與業(yè)計算機相連接,并迅速處理數(shù)據(jù)并輸出偏差值到各種業(yè)設(shè)備。
2、X射線測厚儀利用X射線穿透被測材料時,X射線的強度的變化與材料的厚度相關(guān)的性,滄州歐譜從而測定材料的厚度,是種非接觸式的動態(tài)計量儀器。它以PLC和業(yè)計算機為核心,采集計算數(shù)據(jù)并輸出目標偏差值給軋機厚度控制系統(tǒng),達到要求的軋制厚度。主要應(yīng)用行業(yè):有色金屬的板帶箔、冶金行業(yè)的板帶。
3、紙張測厚儀:適用于4mm以下的各種薄膜、紙張、紙板以及其他片狀材料厚度的測量。
4、薄膜測厚儀:用于測定薄膜、薄片等材料的厚度,測量范圍寬、測量度,具有數(shù)據(jù)輸出、意位置置零、公英制轉(zhuǎn)換、自動斷電等點。
5、涂層測厚儀:用于測量鐵及非鐵金屬基體上涂層的厚度.
6、聲波測厚儀:聲波測厚儀是根據(jù)聲波脈沖反射原理來行厚度測量的,當探頭發(fā)射的聲波脈沖通過被測物體到達材料分界面時,脈沖被反射回探頭,通過測量聲波在材料中傳播的時間來確定被測材料的厚度。凡能使聲波以恒定速度在其內(nèi)傳播的各種材料均可采用此原理測量。
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